Duke標準品4000系列(干燥型)微粒的標稱直徑是通過NIST溯源的顯微鏡方法進行校準的,而它的直徑分布與均一性是通過電阻分析或光學顯微鏡進行測定的。
Duke標準品4000系列(干燥型)單一尺寸微粒可使分析系統對形狀影響的反應小化,非常適合于需要具有極窄標準偏差的 NIST™ 溯源性尺寸標準品的領域。
特點:
Duke標準品4000系列(干燥型)
標稱直徑